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技術文章
TECHNICAL ARTICLES光學顯微鏡測量應用為專家和入門者量身定制的全套測量解決方案無論您是負責行業(yè)的質量控制還是在實驗室里研發(fā)新型材料，數字顯微鏡系統(tǒng)都是您進行研究的基礎。這樣的顯微鏡系統(tǒng)必須適合從新手到專家的各類人群，能夠提供專業(yè)應用模塊并符合內部測試規(guī)程和新標準。簡而言之，它是一套為您量身定制且能滿足您應用需求的解決方案。實現微米和納米級研究觀測。交互式測量每次測量的基本參數包括面積、角度、周長、直徑、重心以及其它許多參數。您需要交互式地確定需要獲得的某種測量參數或測量順序，并讓其按照的順序進行...
光學顯微鏡勘探學和自然資源應用地質學自然資源領域中的商業(yè)活動基于研究地球的地質科學。從微體古生物學到礦物學研究，顯微鏡的成像與分析應用已逾百年。諸如X射線分析和陰極熒光等技術結合了掃描電子顯微鏡（SEM）的優(yōu)勢，大大提升了我們全球客戶的研究實力?？勺儔毫呙桦娮语@微鏡能夠在無需鍍碳的情況下對薄片和拋光核芯進行成像。環(huán)境成像可以定位儲油層沙石內的親水部位，與離子束技術相結合可觀察頁巖內的微空隙結構。礦物辨別大部分巖石樣品由光學各異性材料組成。在光學顯微鏡下用于礦物辨別的兩個最重...
鋰離子電池高電壓正極材料獲系列進展北大潘鋒團隊3篇頂刊！鋰離子電池高電壓正極材料獲系列進展鋰離子電池作為新一代的綠色儲能器件已經被廣泛應用于人們的日常生活當中，從移動通訊設備到新能源汽車綠色出行。鈷酸鋰正極由于具有高的體積能量密度和穩(wěn)定性，一直占據移動數碼產品電池市場。隨著移動通訊設備對電池續(xù)航能力的要求越來越高，進一步提升鈷酸鋰的能量密度具有重大產業(yè)需求。在各種可行的措施中，提高充電截止電壓獲取更高的比容量是一種最為直接有效的方法，但卻帶來循環(huán)穩(wěn)定性差的問題。圍繞這一難題，...
Sensofar共聚焦白光干涉儀|測量原理增強型光學測量技術Sensofar共聚焦白光干涉儀雖然一開始作為高性能3D光學輪廓儀設計，但是我們的某些系統(tǒng)所有現有的光學輪廓儀，集所有技術于一身。Sensofar共聚焦白光干涉儀條紋投影非常適合大面積測量，垂直精度和可重復性高，系統(tǒng)噪聲低。產品陣容技術組合我們的Sensofar共聚焦白光儀系統(tǒng)采用不同光學測量技術進行工作，一部分系統(tǒng)采用組合技術。聚集這些技術的優(yōu)點，外加技術和操作軟件，成就市場上競爭力的高級測量設備。為何使用四合一技...
Sensofar共聚焦白光干涉儀|多焦面疊加主動照明多焦面疊加是一種為了測量粗糙的表面形狀而開發(fā)的光學技術。這項技術基于Sensofar在共聚焦和干涉3D測量領域的廣泛專業(yè)知識，專門設計用于補充低放大率下的測量BACKGROUNDSensofar共聚焦白光干涉儀|多焦面疊加原理主動照明多焦面疊加技術利用了明場中存在景深的特點，樣品只有在的特定z范圍中對焦。景深會根據物鏡的數值孔徑或光源波長而變化。Z高度的值是根據圖像的高對比度（清晰度或微小細節(jié)）來計算的從而得出正確的對焦位置...
Sensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術共聚焦輪廓儀專為測量光滑表面到極粗糙表面而開發(fā)。共聚焦輪廓提供更佳的橫向分辨率，可達0.15μm線條和空間，空間采樣可減少到0.01μm，這是關鍵尺寸測量的理想選擇。背景Sensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術共聚焦技術能夠測量表面高度，將常規(guī)圖像轉換成光學剖面，其中，物鏡焦深范圍內的那些區(qū)域的信號被保留，改善了圖像對比度、橫向分辨率和系統(tǒng)噪聲。光學方案對于3D成像，必須從相機的所有像素獲取數據。這意味著：重新構建共聚焦圖像。為...
Sensofar共聚焦白光干涉儀|白光干涉技術Sensofar共聚焦白光干涉儀為了測量非常光滑的表面到中等粗糙表面的表面高度，開發(fā)了干涉技術，可在任何放大倍率下實現相同的系統(tǒng)噪聲。對于PSI，它可實現優(yōu)于0.01nm的系統(tǒng)噪聲。背景干涉工作原理干涉技術的工作原理是：將光分成光學傳播路徑不同的兩個光束，然后再合并，從而產生干涉。干涉物鏡允許顯微鏡作為干涉儀而工作；焦點對準后，可在樣本上觀察到條紋。光學方案PSI的光學方案與FV具有相同配置，但是現在采用干涉物鏡而不是明場。為了獲...
Sensofar共聚焦白光干涉儀|光譜反射技術光譜反射能快速、精確、無損地測量薄膜，且無需制備任何樣本。背景薄膜透明層沉積在表面上時，其反射率會變化。該系統(tǒng)獲取可見范圍內樣本的反射光譜，并與軟件計算的模擬光譜進行比較，對層厚進行修改，直到找到匹配的厚度。對于薄膜，厚度與光波長類似，我們沿著光譜獲得波浪狀的反射率響應。主要特征從50nm到1.5μm厚的透明薄膜可在不到5秒的時間內測得從50nm到1.5μm厚的透明薄膜不到5秒內采集一個物鏡可覆蓋整個范圍不同光斑大小(3.5μm到...