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我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展，Smart2我們很高興與您分享一些有關(guān)我們的Smart2系統(tǒng)令人興奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關(guān)新功能的信息，有一個演示該系統(tǒng)在CMP過程的案例研究以及我們在中國的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個新干涉物鏡，包括干涉2.5XTI和5XTI，以及明場100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚...

隨著國家對新材料和新工藝的迫切需求，功能無機材料和化工產(chǎn)品的研發(fā)與應(yīng)用正在蓬勃發(fā)展。與此同時，如何進行高分辨率的微觀表征和實時過程監(jiān)測，也成為相關(guān)研究的重要課題。在這一領(lǐng)域，掃描電鏡以其獨*的成像與分析功能，提供了極*價值的解決方案。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18掃描電鏡實現(xiàn)了納米級空間分辨率，可以直接觀測樣品的微納結(jié)構(gòu)。同時，其配備的能譜系統(tǒng)可以分析材料元素組成，研究材料結(jié)構(gòu)與性能之間的內(nèi)在關(guān)系。此外，ZEM18還可進行各種原位測試，實現(xiàn)對化學(xué)反應(yīng)過程的實時、動態(tài)監(jiān)測。這為研...

掃描電鏡是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工藝等領(lǐng)域的*備工具，它可以通過探測樣品表面激發(fā)出來的電子信號，對物質(zhì)微觀形貌進行表征。在半導(dǎo)體工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用于器件結(jié)構(gòu)的實時檢測和剖面分析方面，為生產(chǎn)和研發(fā)提供了其他測試分析儀器所無法提供的直接測量信息。澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實現(xiàn)高分辨率的表面形貌觀測、元素分析、晶體結(jié)構(gòu)分析等功能，適用于半導(dǎo)體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實現(xiàn)器件結(jié)構(gòu)的實時檢測和剖面分析，提高半導(dǎo)體器件的制造質(zhì)量和性能穩(wěn)定...

近期，加拿大多倫多大學(xué)YuZou課題組與北京大學(xué)高鵬課題組、美國愛荷華州立大學(xué)QiAn課題組、加拿大達爾豪斯大學(xué)PenghaoXiao課題組合作，報道了利用電場控制位錯運動，他們通過原位和原子尺度電鏡表征結(jié)合理論計算揭示了電場控制位錯運動的機制。該研究成果以“利用電場控制位錯移動”（Harnessingdislocationmotionusinganelectricfield）為題，于6月19日發(fā)表在《自然-材料》（NatureMaterials）。位錯是晶體中常見的線缺陷，...

液晶顯示器(LiquidCrystalDisplay,LCD)是當(dāng)前社會中應(yīng)用非常多的顯示器，在日常生活中隨處可見。LCD主要由彩色濾光片基板(Colorfilter，CF)、TFT陣列(TFTArray)基板和背光模塊(Backlightunit)三大部分所組成。TFTLCD面板結(jié)構(gòu)（圖片來源于網(wǎng)絡(luò)）在這三大組成部分里面，背光模塊對LCD非常重要，因為背光質(zhì)量決定了液晶顯示屏的亮度、出射光均勻度、色階等重要參數(shù)，決定了液晶顯示器的發(fā)光效果。在背光模塊中有一層非常重要的光學(xué)薄...

每當(dāng)發(fā)生命案，社會廣泛關(guān)注，盡早破案，最快找到兇手是每個人的心聲。但是隨著*罪分子反偵察技術(shù)不斷提高，作案手段智能化發(fā)展趨勢，*罪分子通過毀滅證據(jù)，*裝現(xiàn)場等手段，掩蓋或破壞*罪現(xiàn)場，使得刑事偵察難上加難，為此我們有必要借助某些精密設(shè)備，更快的找到*罪第一現(xiàn)場，更快找到真兇，還原事情真相，作出公正的判罰。掃描電鏡在司法鑒定行業(yè)發(fā)揮著不可忽略的作用，它具有檢測快速簡便，取材少，無損檢測，放大倍數(shù)高等一系列優(yōu)點，成為刑事技術(shù)檢測的重要工具。ZEM15掃描電鏡是澤攸科技自主研發(fā)的鎢...

在現(xiàn)代制造業(yè)和科研領(lǐng)域，平面度的精確測量至關(guān)重要。無論是汽車發(fā)動機的缸蓋密封性檢測，還是航空發(fā)動機葉片的平整度評估，都需要依賴高精度的測量工具。白光干涉儀，憑借其優(yōu)秀的橫向和縱向分辨率，已成為平面度測量的選擇利器。白光干涉儀的工作原理基于光的干涉現(xiàn)象。當(dāng)一束白光照射在待測物體表面時，會形成反射光和透射光。這兩束光相遇后，會產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，形成明暗相間的干涉條紋。干涉條紋的形狀和間距與物體表面的形貌密切相關(guān)。通過比較標(biāo)準(zhǔn)平面和待測物體表面的干涉條紋，我們可以精確計算出待測物體表面...

在現(xiàn)代科技飛速發(fā)展的今天，精密測量儀器的設(shè)計不僅要滿足高精度的測量需求，更要注重美觀與集成的便捷性。三維共聚焦白光干涉儀測量頭，以其杰出的性能和特殊的設(shè)計，成為了市面上最漂亮的可集成區(qū)域共聚焦傳感器之一。這款測量頭的設(shè)計充分體現(xiàn)了現(xiàn)代工業(yè)設(shè)計的精髓。其外觀簡潔流暢，線條優(yōu)美，無論是從哪個角度看，都透露出一種精致的美感。同時，它的體積小巧，結(jié)構(gòu)緊湊，這使得它在集成到各種測量系統(tǒng)中時，能夠輕松融入，不會占用過多空間，也不會干擾到其他設(shè)備的正常運行。更重要的是，這款三維共聚焦白光干...