S neox光學(xué)輪廓儀在光學(xué)元件薄膜檢測的應(yīng)用

產(chǎn)品簡介

S neox光學(xué)輪廓儀在光學(xué)元件薄膜檢測的應(yīng)用

光學(xué)元件和光學(xué)薄膜的表面質(zhì)量是其性能的決定性因素之一。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2026-03-06

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

BRUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀

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S neox光學(xué)輪廓儀在光學(xué)元件薄膜檢測的應(yīng)用

光學(xué)元件和光學(xué)薄膜的表面質(zhì)量是其性能的決定性因素之一。

Sensofar S neox非接觸式粗糙度輪廓儀，特別是其白光干涉測量模式，非常適合于此類高光滑表面的表征。

對于各類光學(xué)元件，如透鏡、棱鏡、反射鏡等，儀器可以高精度地測量其面形誤差，包括平面度、球面度、非球面偏差等，精度可達(dá)納米量級。同時，其高垂直分辨率能夠精確測量元件表面的微觀粗糙度（可達(dá)亞納米級），這對于評估元件的散射損耗、激光損傷閾值等性能至關(guān)重要。

在光學(xué)薄膜檢測方面，該儀器用途廣泛。它可以測量單層或多層薄膜的厚度（通過測量薄膜臺階），評估鍍膜的均勻性。通過分析薄膜表面的三維形貌，可以量化表面缺陷（如針孔、節(jié)瘤）的密度和尺寸，這些缺陷是導(dǎo)致薄膜激光損傷或影響光學(xué)性能的主要原因。此外，薄膜的應(yīng)力有時會導(dǎo)致基片發(fā)生翹曲，通過測量鍍膜前后基片的整體形貌變化，可以間接評估薄膜應(yīng)力的大小和分布。

對于衍射光學(xué)元件（如光柵、菲涅爾透鏡）或具有微結(jié)構(gòu)的仿生光學(xué)表面，該儀器能夠精確測量其周期、占空比、刻槽深度等關(guān)鍵幾何參數(shù)，為制造工藝的反饋控制提供直接數(shù)據(jù)。

S neox光學(xué)輪廓儀在光學(xué)元件薄膜檢測的應(yīng)用

上一個：光學(xué)輪廓儀在微電子與MEMS制造中的角色