白光干涉儀S neox的非接觸測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)

在測(cè)量精密、柔軟、易損傷或潔凈度要求高的樣品時(shí)，接觸式測(cè)量方法可能存在局限性。探針與樣品表面的物理接觸，存在劃傷樣品表面或?qū)е绿结樐p的風(fēng)險(xiǎn)，且測(cè)量力可能使柔軟樣品發(fā)生形變，影響結(jié)果的真實(shí)性。Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀采用光學(xué)原理進(jìn)行測(cè)量，其非接觸的特性在這些場(chǎng)景下展現(xiàn)出其應(yīng)用意義。

非接觸測(cè)量的核心優(yōu)勢(shì)在于避免了與樣品表面的任何物理相互作用。這意味著：

1.無(wú)損檢測(cè)：不會(huì)在樣品表面留下劃痕或壓痕，這對(duì)于成品檢驗(yàn)、珍貴樣品（如考古文物、生物標(biāo)本）分析、以及需要后續(xù)工藝處理的在制品檢測(cè)尤為重要。

2.真實(shí)反映柔軟表面形貌：對(duì)于聚合物、水凝膠、生物組織等柔軟材料，接觸式測(cè)針的壓力可能導(dǎo)致表面凹陷，測(cè)得的高度值低于真實(shí)值。光學(xué)測(cè)量則能捕獲其不受外力影響的狀態(tài)。

3.適用于潔凈環(huán)境：沒(méi)有機(jī)械接觸，避免了因摩擦產(chǎn)生的顆粒污染，符合半導(dǎo)體、光學(xué)元件等對(duì)潔凈度有嚴(yán)格要求的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

S neox通過(guò)白光干涉和共聚焦等技術(shù)實(shí)現(xiàn)非接觸測(cè)量。它利用光線作為“探針"，通過(guò)分析從樣品表面反射回來(lái)的光信號(hào)來(lái)重建三維形貌。整個(gè)測(cè)量過(guò)程對(duì)樣品本身沒(méi)有施加任何力。

此外，非接觸測(cè)量通常意味著更快的測(cè)量速度。特別是對(duì)于三維面測(cè)量，S neox可以快速獲取一個(gè)區(qū)域內(nèi)的所有數(shù)據(jù)點(diǎn)，而接觸式輪廓儀需要進(jìn)行逐點(diǎn)、逐線的掃描。

白光干涉儀S neox的非接觸測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)