在材料動態(tài)行為研究領域，傳統(tǒng)電鏡難以兼顧高分辨率成像與實時實驗監(jiān)測的需求。澤攸科技推出的ZEM20Pro臺式掃描電鏡，通過集成原位拉伸、加熱與電學測量模塊，為科研人員提供了多維度的分析解決方案。

產品性能與技術創(chuàng)新

ZEM20Pro搭載單晶燈絲電子源，分辨率達4納米（20kV電壓下），支持36萬倍極限放大。其真空分隔技術將電子槍與樣品倉獨立抽真空，換樣時間縮短至1分鐘以內，顯著提升實驗效率。設備內置高清攝像頭，可實時記錄樣品在原位實驗中的形變過程。

關鍵用材與功能擴展

• 燈絲材料：單晶鎢燈絲壽命長達1500小時，降低耗材更換頻率。

• 原位附件：可選配拉伸臺（最大載荷50N）、加熱臺（最高溫度1000℃）或TEC冷臺（溫度-30℃），適配不同實驗需求。

• 軟件系統(tǒng)：配套分析軟件支持圖像拼接、三維重構與數(shù)據(jù)導出，簡化后期處理流程。

參數(shù)表與型號適配

多場景應用實例

• 金屬疲勞研究：通過原位拉伸臺觀察裂紋萌生與擴展過程，結合EDS分析氧化層成分變化。

• 電池材料開發(fā)：在加熱臺上模擬充放電循環(huán)中的電極膨脹現(xiàn)象，評估材料熱穩(wěn)定性。

• 二維材料表征：利用冷臺凍結液相反應中間態(tài)，捕捉石墨烯剝離或MoS?層間滑移的動態(tài)圖像。

操作流程優(yōu)化建議

1. 實驗設計：根據(jù)樣品特性選擇合適的原位附件，提前校準載荷傳感器或溫度探頭。

2. 成像優(yōu)化：在低倍率下定位感興趣區(qū)域，逐步放大至目標倍數(shù)，避免電子束長時間照射導致樣品損傷。

3. 數(shù)據(jù)管理：采用“實驗模板"功能保存常用參數(shù)設置，提高重復性實驗的效率。

ZEM20Pro通過模塊化設計與智能化軟件，將高分辨成像與原位實驗無縫銜接，為材料動態(tài)行為研究提供了全新的技術路徑。