布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀納米級測量新選擇

產(chǎn)品簡介

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀納米級測量新選擇
布魯克 Dimension Edge 白光干涉光學(xué)輪廓儀，專注納米級微觀測量，為高精度檢測需求提供支持。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2026-01-05

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：317

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

BRUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀

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布魯克 Dimension Edge 白光干涉光學(xué)輪廓儀，專注納米級微觀測量，為高精度檢測需求提供支持。布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀納米級測量新選擇

產(chǎn)品細(xì)節(jié)

Dimension Edge 設(shè)計精密，機(jī)身帶有防震減震裝置。操作界面專業(yè)，支持多種高級測量模式設(shè)置，滿足復(fù)雜樣品檢測需求。樣品臺采用壓電驅(qū)動，移動精度高，可實(shí)現(xiàn)納米級定位。

產(chǎn)品性能

測量分辨率高，能捕捉納米級表面起伏與缺陷。采用先進(jìn)干涉算法，數(shù)據(jù)處理精準(zhǔn)，對超光滑表面測量效果突出。支持長時間連續(xù)測量，性能穩(wěn)定性較好。

用材講究

核心干涉組件采用特殊光學(xué)材料，保證干涉信號穩(wěn)定。驅(qū)動系統(tǒng)選用高精度壓電陶瓷，實(shí)現(xiàn)微納米級位移控制。設(shè)備內(nèi)部線路采用屏蔽設(shè)計，減少電磁干擾。

參數(shù)詳情

參數(shù)項(xiàng)	具體數(shù)值
縱向分辨率	可達(dá) 0.1nm
樣品臺移動精度	±1nm
測量范圍	縱向最大 100μm
數(shù)據(jù)存儲	支持大容量數(shù)據(jù)保存
工作濕度	30% - 60% RH

廣泛用途

適用于光學(xué)薄膜厚度測量、納米涂層質(zhì)量檢測、高精度傳感器表面形貌分析等高精度場景，為前沿技術(shù)研發(fā)提供數(shù)據(jù)支持。

使用說明

需在恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室使用，遠(yuǎn)離磁場與振動源。測量前對設(shè)備進(jìn)行精細(xì)校準(zhǔn)，使用專用樣品固定工具。操作人員需經(jīng)過專業(yè)培訓(xùn)，熟悉高級功能設(shè)置。測量完成后，妥善保存數(shù)據(jù)，定期進(jìn)行設(shè)備標(biāo)定。

布魯克這四款白光干涉光學(xué)輪廓儀，針對不同場景設(shè)計，憑借各自特點(diǎn)滿足科研、桌面檢測、工業(yè)生產(chǎn)、高精度測量等多樣需求，為微觀測量領(lǐng)域提供可靠支持。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀納米級測量新選擇

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