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澤攸電鏡ZEM20Pro:微觀成像多面手 在納米材料研究的浪潮中,ZEM20Pro臺(tái)式高分辨率掃描電子顯微鏡以其獨(dú)特的設(shè)計(jì)和實(shí)用性能,成為科研人員探索微觀世界的得力助手。這款國(guó)產(chǎn)設(shè)備將高分辨成像能力融入緊湊的桌面設(shè)計(jì)中,打破了傳統(tǒng)大型電鏡對(duì)空間和環(huán)境的嚴(yán)苛要求,為實(shí)驗(yàn)室提供了更靈活的微觀成像解決方案。
更新時(shí)間:2026-01-06
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:273
澤攸電鏡ZEM20Pro:納米世界的顯微新工具 在納米材料研究的浪潮中,ZEM20Pro臺(tái)式高分辨率掃描電子顯微鏡以其獨(dú)特的設(shè)計(jì)和實(shí)用性能,成為科研人員探索微觀世界的得力助手。這款國(guó)產(chǎn)設(shè)備將高分辨成像能力融入緊湊的桌面設(shè)計(jì)中,打破了傳統(tǒng)大型電鏡對(duì)空間和環(huán)境的嚴(yán)苛要求,為實(shí)驗(yàn)室提供了更靈活的微觀成像解決方案。
更新時(shí)間:2026-01-06
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:285
澤攸掃描電鏡:高性價(jià)比科研與工業(yè)解決方案 ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡是澤攸科技ZEM系列中的一款高性價(jià)比臺(tái)式掃描電子顯微鏡,采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù),如真空分隔技術(shù),通過(guò)電子槍與樣品倉(cāng)的真空分離設(shè)計(jì),顯著縮短換樣時(shí)間,同時(shí)支持高真空與低真空模式。設(shè)備具備超大樣品倉(cāng)和高清攝像頭,支持原位實(shí)驗(yàn)擴(kuò)展,滿足科研的多樣化需求。
更新時(shí)間:2026-01-20
產(chǎn)品型號(hào):ZEM20
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澤攸掃描電鏡:科研與工業(yè)得力助手 在焊接技術(shù)應(yīng)用廣泛的制造業(yè)中,焊接質(zhì)量的把控直接關(guān)系到產(chǎn)品的安全性和可靠性。傳統(tǒng)檢測(cè)手段在分析焊接區(qū)域微觀細(xì)節(jié)時(shí)存在一定局限性,而ZEM20臺(tái)式掃描電鏡的引入,為焊接質(zhì)量檢測(cè)提供了新的技術(shù)支持。
更新時(shí)間:2026-01-20
產(chǎn)品型號(hào):ZEM20
瀏覽量:220
澤攸掃描電鏡:焊接質(zhì)量檢測(cè)的實(shí)用工具 在焊接技術(shù)應(yīng)用廣泛的制造業(yè)中,焊接質(zhì)量的把控直接關(guān)系到產(chǎn)品的安全性和可靠性。傳統(tǒng)檢測(cè)手段在分析焊接區(qū)域微觀細(xì)節(jié)時(shí)存在一定局限性,而ZEM20臺(tái)式掃描電鏡的引入,為焊接質(zhì)量檢測(cè)提供了新的技術(shù)支持。
更新時(shí)間:2026-01-20
產(chǎn)品型號(hào):ZEM20
瀏覽量:226
澤攸掃描電鏡:科研與工業(yè)的得力助手 澤攸科技推出的ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)是一款集成了多項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù)的高性價(jià)比設(shè)備,適用于材料科學(xué)、電子制造、生物醫(yī)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域。該設(shè)備采用預(yù)對(duì)中鎢燈絲電子源與真空分隔技術(shù),具備高分辨率成像與快速操作體驗(yàn)。其緊湊設(shè)計(jì)和超大樣品倉(cāng),便于用戶進(jìn)行樣品觀察與分析。設(shè)備支持三軸或五軸樣品臺(tái),配備SE/BSE探測(cè)器,可選配EDS能譜分析,滿足多樣化的科研需求。
更新時(shí)間:2026-01-20
產(chǎn)品型號(hào):ZEM20
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