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臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析
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澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡便,僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作,一體式聚光鏡,無需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。
更新時(shí)間:2026-01-20
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ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡便,僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作,一體式聚光鏡,無需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。
更新時(shí)間:2026-01-20
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ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡采用單晶燈絲,最高放大36萬倍,分辨率可達(dá)3nm。自動(dòng)亮度對比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺(tái),滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測需求。
更新時(shí)間:2026-01-04
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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,并可在電學(xué)測量的同時(shí),動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征,大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
更新時(shí)間:2026-01-04
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澤攸ZEM20電鏡的的適用場景 在考慮為實(shí)驗(yàn)室或工作場所添置一臺(tái)掃描電子顯微鏡時(shí),臺(tái)式型號是一個(gè)值得關(guān)注的選項(xiàng)。
更新時(shí)間:2026-02-28
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瀏覽量:53
澤攸ZEM20電鏡的初步成分分析能力 掃描電子顯微鏡最guang 為人知的能力是提供高分辨率的表面形貌圖像。
更新時(shí)間:2026-02-28
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